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全芯智造取得芯片失效模式的确定方法、终端专利能够提高芯片失效分析的准确度NG体育娱乐

发布时间:2024-08-31 02:26浏览次数: 来源于:网络

  NG体育娱乐金融界 2024 年 8 月 30 日消息,天眼查知识产权信息显示NG体育娱乐,全芯智造技术有限公司取得一项名为“芯片失效模式的确定方法NG体育娱乐、终端“,授权公告号 CN113823349B,申请日期为 2021 年 8 月。

  专利摘要显示,一种芯片失效模式的确定方法、终端NG体育娱乐,所述方法包括:获取芯片在多个测试电压下的失效比特;对所获取到的失效比特进行失效模式运算,获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式,其中,所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特;基于所述失效比特组的失效模式,确定所述失效比特组中失效比特的失效模式NG体育娱乐。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度NG体育娱乐。

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